Настольные камеры для УФ испытаний Solarbox 1500/1500e и 3000/3000e
Описание
Семейство настольных ксеноновых камер, представленное четырьмя моделями в двух вариантах размера.
Ксеноновые системы SOLARBOX 1500/1500e и 3000/3000e — это ультрафильтрационные ксеноновые приборы, разработанные для тестирования пластмасс, пластиков, текстиля, фармацевтической продукции, косметики, упаковки на светопогодоустойчивость при нормальных или высоких температурах, а также при высокой интенсивности освещения.
Ксеноновая лампа с воздушным охлаждением в SOLARBOX воспроизводит полный спектр солнца, а легко взаимозаменяемые светофильтры позволяют воспроизводить определенные спектральные распределения, обнаруженные в конечных средах вашего продукта.
Представленные 6 различными моделями с широким спектром доступных опций (например, контроля влажности – см. каталог SOLARBOX RH), камеры SOLARBOX отвечают требованиям следующих стандартов по категориям применения:
КЛЕЕВЫЕ МАТЕРИАЛЫ: ASTM D904; ASTM C1442; ASTM C1501; RILEM DBS.
АВТОМОБИЛЕСТРОЕНИЕ: SAE J2527; SAE J2412.
ПОКРЫТИЯ: QUALICOAT; ISO 2135; ISO 11341; ASTM D3451; ASTM D3794; ASTM D6577; ASTM D6695; GB 1865; JIS K 5600-7-7; MPI: #113; MS 133: Часть F14.
СТОМАТОЛОГИЯ: ISO 4049:2000; ISO 7491:2000.
ОБЩИЕ МЕТОДЫ ИСПЫТАНИЙ: IEC 68-2-9; ISO 4892-1; ASTM G151; ASTM G155.
ГЕОТЕКСТИЛЬ: ASTM D4355.
ЧЕРНИЛА/БУМАГА: ISO 11798; ISO 12040; ISO 18909; ASTM D3424; ASTM D4303; ASTM D5010; ASTM D6901; ASTM F2366.
УПАКОВОЧНЫЕ МАТЕРИАЛЫ: ASTM D6551.
ФАРМАЦЕВТИЧЕСКАЯ ПРОДУКЦИЯ: Руководство ICH Q1B.
ПЛАСТИКИ: ISO 4892-2; JIS K 7350-2; DIN EN 513; ASTM D1248; ASTM D2565; ASTM D4101; ASTM D4459; ASTM D5071; ASTM D6662; UL 1581.
КРОВЕЛЬНЫЕ МАТЕРИАЛЫ: ASTM ASTM D4434; ASTM D4637; ASTM D4798; ASTM D4811; ASTM D5019; ASTM D6083.
РЕЗИНОТЕХНИЧЕСКИЕ ИЗДЕЛИЯ: ISO 3865; ISO 4665.
ГЕРМЕТИКИ: ASTM C1442; ASTM C1501.
ТЕКСТИЛЬ: AATCC TM 16; AATCC TM 169; GB/T-8430; IS: 2454; ISO 105-B02.
Источником светового излучения в SOLARBOX является одна ксеноновая лампа с воздушным охлаждением, интенсивность излучения которой вдвое превышает интенсивность солнечного света. Освещенность представляет собой интенсивность светового потока, падающего на поверхность образцов. Для получения точных и воспроизводимых результатов испытаний на стойкость к воздействию атмосферных условий необходимо обеспечить контроль уровня освещенности.
В камерах SOLARBOX обеспечивается непрерывное измерение и контроль уровня освещенности в ходе каждого испытания наряду с компенсацией старения лампы и УФ-фильтра с помощью специальной системы контроля, состоящей из сенсора узкой полосы спектра в закрытом цикле.
Равномерность распределения освещенности обеспечивается параболической отражающей камерой с ксеноновой лампой в фокусе, представляет собой оптимальное решение для конструктивной реализации надежной ксеноновой литографической системы с плоским отражателем при очень хорошем согласовании функции экспонирования с вращением барабана.
Контроль температуры
Температура представляет собой еще один фактор условий эксплуатации, который играет ключевую роль в ухудшении свойств материалов. Источником тепла в природной среде является инфракрасная часть спектра естественного солнечного света.
Объект, подвергаемый воздействию прямых солнечных лучей, всегда теплее, чем окружающий его воздух. Аналогичному воздействию подвергаются образцы в испытательной камере SOLARBOX.
Излучаемое ксеноновой лампой тепло находится под постоянным контролем стандартного термометра для измерения температуры черной поверхности (BST), вмонтированного заподлицо рядом с площадкой для размещения образцов.
В камерах SOLARBOX 1500e и 3000e реализованы функции контроля и отображения на дисплее значений температуры в диапазоне от 35 °С до 100 °С, измеренных с помощью BST. Контроль температуры в процессе деградации свойств материалов под воздействием атмосферных условий имеет очень важное значение, поскольку повышение температуры на каждые 10 градусов вызывает двойное увеличение скорости кинетической реакции.
Таким образом, поскольку повышение температуры ускоряет старение, важно обеспечить возможность ее контроля с помощью BST во время воздействия отфильтрованного излучения ксеноновой дуговой лампы.
